Кокатев Александр Николаевич
Закончил ФМФ КГПУ (2007г.) по специальности «Физика с дополнительной специальностью математика».
Занимается изучением кинетики роста оксидных пленок на алюминии, титане, ниобии и их сплавах, атомно-молекулярной структуры материалов методом ИК-спектроскопии, поверхности материалов, локальных электрических и магнитных свойств, элементного состава методами оптической, электронной и сканирующей зондовой микроскопии.
В настоящий момент занят проблемами получения и исследования структуры и свойств композитных материалов на основе наноструктурированных анодных оксидов алюминия и титана.
- Сопровождение лабораторного практикума по квантовой физике и физике наноматериалов.
- Сопровождение и обслуживание формовочной установки по получению оксидов алюминия.
- Сопровождение и руководство проектной деятельностью школьников 9-11 классов г. Петрозаводска.
- Член Совета молодых ученых и специалистов Республики Карелия.
- Член Нанотехнологического Общества России.
- Удостоен почетного звания «Лауреат 2009 года» за достигнутые успехи в исследование и внедрение в практику наноструктурированных оксидных пленок и покрытий.
Имеет:
- удостоверение о прохождении курса обучения по программе 1-ой Международной научной школы «Наноматериалы и нанотехнологии в живых системах», 2009 год,
- сертификат о прохождении курса обучения в университете г. Ювяскюля по программе «Электронная микроскопия», 2010 г.,
- сертификат участника семинара «Визуализация поверхностей с предельным разрешением и изучение локальных механических и электрических свойств», 2011 г,
- сертификат квалифицированного пользователя сканирующего зондового микроскопа «Солвер Некст», 2012 г.
В 2011 году получено положительное решение о выдаче патента на изобретение №2009118665, дата приоритета 18.05.2009. Способ формирования нанокомпозитных покрытий на алюминии и его сплавах. Авторы: Кокатев А.Н., Чупахина Е.А., Яковлева Н.М., Яковлев А.Н. (ГОУВПО «КГПА»).
В 2009, 2010 и 2012 г. проходил научно-исследовательскую стажировку в университете г. Хальмштад и г. Лунд (Швеция) по повышению квалификации в области исследования оксидных пленок и покрытий методами сканирующей электронной микроскопии (СЭМ), и инфракрасной Фурье-спектроскопии (ИКФС).